@ET-DC@eyJkeW5hbWljIjp0cnVlLCJjb250ZW50IjoicG9zdF90aXRsZSIsInNldHRpbmdzIjp7ImJlZm9yZSI6IjxoMT4iLCJhZnRlciI6IjwvaDE+In19@
Opis, cel szkolenia:
Podczas szklenia omówione zostaną podstawy oraz kluczowe elementy statystycznego sterowania procesem kompleksowo zaznajamiając uczestników z prawidłowymi zasadami wykorzystania metod SPC w praktyce.
Omówione zostaną narzędzia wspomagające mające na celu monitorowanie zmian w procesie oraz zbieranie podstawowych danych. Szkolenie ma na celu podniesienie kwalifikacji personelu nadzorującego proces oraz ukazanie zastosowania metod i narzędzi SPC w codziennej pracy.
Adresaci
- Kadra techniczna, inżynierowie jakości, metrolodzy
- Pracownicy biur projektowych, działu konstrukcji i rozwoju
- Kontrolerzy jakości, koordynatorzy SPC, inżynierowie procesu
- Pracownicy działu jakości i laboratoriów pomiarowych
- Produkcyjna kadra zarządzająca
- osoby odpowiedzialne za jakość dostaw
Forma prowadzenia zajęć
Prezentacja interaktywna, ćwiczenia, warsztaty komputerowe, dyskusja, test kontrolny sprawdzający i utrwalający nabytą wiedzę.
Korzyści, efekt uczestnictwa w szkoleniu
- Podniesienie kwalifikacji w zakresie SPC
- Uczestnicy szkolenia zdobędą wiedzę na temat:
- narzędzi, metod statystycznych oraz możliwości ich zastosowania
- organizowania SPC z zakresie własnych możliwości i potrzeb
- określania zdolności i możliwości procesu (poprawa zdolności)
- samodzielnego opracowywania, dostosowywania kart kontrolnych do procesów produkcyjnych
Trener
Specjalista metrolog, posiadający wykształcenie kierunkowe, współpracujący z akredytowanym laboratorium badawczym i wzorcującym, audytor systemu zarządzania jakością, wieloletni trener konsultant realizujący projekty szkoleniowe m.in.: dla takich marek jak Volkswagen czy Electrolux. Na co dzień zajmujący się metrologią w procesach produkcyjnych oraz wzorcowaniem i pomiarami wielkości fizycznych, a także opracowywaniem i wdrażaniem dokumentacji, instrukcji sprawdzeń i wzorcowań.
Cena:
- Masz pytania na temat szkolenia? Skontaktuj się z nami: +48 660 304 375, biuro@metremis.pl
Cena obejmuje:
- udział w szkoleniu, możliwość konsultacji z trenerem
- materiały szkoleniowe
- certyfikat ukończenia szkolenia (j.polski i/lub j.angielski)
- serwis kawowy, obiad, w opcji z noclegiem: kolacja i śniadanie
- gwarancję najlepszej ceny oraz jakości
- nocleg płatny dodatkowo- pokój 1 doba: jednoosobowy 350zł/os., dwuosobowy 250zł/os.
Program szkolenia
Dzień pierwszy
1. Rola metod statystycznych w zarządzaniu procesami:
• zmienność w procesach,
• opis zmienności: parametry i histogram rozkładu statystycznego,
• diagram Ishikawy – zapis hipotez nt przyczyn zmienności,
• przyczyny specjalne i pospolite w procesie,
• wykorzystanie histogramu do oceny procesu,
2. Rozkład normalny w procesie:
• właściwości rozkładu normalnego,
• reguła 6 sigm i informacje nt częstości zdarzeń,
• prognozowanie wadliwości procesu.
• zastosowanie reguły 6 sigm
3. Badanie zdolności procesów i ich składników:
• badanie zmienności całkowitej – wskaźniki Pp, Ppk, wycentrowanie procesu
• badanie stabilności procesu
• powtarzalność i odtwarzalność miary zmienności w warunkach powtarzalności,
• badanie zmienności losowej – wskaźniki Cp, Cpk
• badanie zdolności składników procesów – wskaźniki Cm, Cmk
Dzień drugi
4. Karty kontrolne Shewharta dla cech mierzalnych (x-s, x-R, Me-R):
• budowa i parametry karty kontrolnej bez zadanych wartości normatywnych
• sygnały na karcie kontrolnej bez zadanych wartości normatywnych,
• sterowanie procesem za pomocą karty kontrolnej bez zadanych wartości normatywnych,
• budowa i parametry karty kontrolnej z zadanymi wartościami normatywnymi.
• sterowanie procesem za pomocą karty kontrolnej z zadanymi wartościami normatywnymi,
5. Karty kontrolne Shewharta dla cech atrybutywnych (np, p, c, u):
• budowa i parametry karty kontrolnej dla cech atrybutywnych
• sygnały na karcie kontrolnej dla cech atrybutywnych,
• sterowanie procesem za pomocą karty kontrolnej dla cech atrybutywnych.
6. Ćwiczenia:
• analiza zdolności procesu
• wykorzystanie kart kontrolnych w analizie i monitorowaniu procesu.
